Cálculo del potencial producido por una superficie conductora corrugada y aplicaciones

Abstract

The physical system formed by two conductors in which a potential difference is established is interesting for its current applications. There is a microscope that uses this system of conductors, which is called "scanning capacitance microscopy." This microscopy is closely linked to other microscopies, such as with near-field scanning optics. A numerical method for calculating the potential produced by a corrugated conductive surface that responds to a source of excitatory potential. The method allows a numerical study of a microscope model called "electrostatic force microscope". The images obtained with our model are similar to those obtained in near field optical microscopy for a certain case of light polarization, although they have the advantage that these images are only a function of the geometry of the roughness and not of physical properties Of the surface under study. This detail simplifies the interpretation of the images obtained.

El sistema físico formado por dos conductores en los que se establece una diferencia de potencial es interesante por sus aplicaciones actuales. Existe una microscopia que utiliza a este sistema de conductores, la cual es llamada en inglés: “scanning capacitance microscopy". Esta microscopia está muy ligada con otras microscopias, como con la óptica de barrido de campo cercano. En este trabajo de tesis proponemos un método numérico que permite calcular el potencial producido por una superficie conductora corrugada que responde a una fuente de potencial exitadora. El método permite hacer un estudio numérico de un modelo de microscopio que denominamos: “microscopio de fuerza electrostática". Las imágenes obtenidas con nuestro modelo se arecen a las obtenidas en la microscopia óptica de campo cercano para un cierto caso de polarización de la luz, aunque tienen la ventaja de que dichas imágenes solo son función de la geometría de la rugosidad y no de propiedades físicas de la superficie bajo estudio. Este detalle hace m as sencilla la interpretación de las imágenes obtenidas.