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http://bibliotecavirtual.dgb.umich.mx:8083/xmlui/handle/DGB_UMICH/15843
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Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
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dc.rights.license | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | |
dc.contributor.advisor | Lázaro Castillo, Isidro Ignacio | |
dc.contributor.author | Cervín Rodríguez, Gerardo | |
dc.date.accessioned | 2023-11-21T14:16:02Z | - |
dc.date.available | 2023-11-21T14:16:02Z | - |
dc.date.issued | 2011-02 | |
dc.identifier.uri | http://bibliotecavirtual.dgb.umich.mx:8083/xmlui/handle/DGB_UMICH/15843 | - |
dc.description | Facultad de Ingeniería Eléctrica. Licenciatura como Ingeniero Electricista | es_MX |
dc.description.abstract | The world today revolves around the electronics, from our home stereos and watches, ignition systems of cars. The number of devices that are somehow electronics is constantly increasing. This thesis directs his effort and attention to meet the reliability of electronic systems during his time, also operating conditions, to ensure that the system worked without failure, until the end of the lifetime of the electronic system . For this analysis considers four simple electronic circuits, voltage divider, operational amplifier transistor and a voltage frequency converter. These cases are analyzed in a simulated way, relying on the tools of computer systems. | en |
dc.description.abstract | El mundo actual gira entorno a la electrónica, desde los estéreos de nuestro hogar y los relojes de pulsera, los sistemas de encendido de los automóviles. La cantidad de dispositivos que de alguna manera son electrónicos esta en constante aumento. Esta tesis dirige su esfuerzo y atención a conocer la confiabilidad de los sistemas electrónicos, durante su periodo de tiempo, así mismo sus condiciones de operación, para poder garantizar que el sistema trabajara sin ninguna falla, hasta el final del periodo de vida del sistema electrónico. Para este análisis de consideran cuatro circuitos electrónicos simples, divisor de tensión, amplificador operacional, transistor y convertidor de frecuencia a voltaje. Estos casos son analizados de una manera simulada, apoyándonos en las herramientas de los sistemas computacionales. | es_MX |
dc.language.iso | spa | es_MX |
dc.publisher | Universidad Michoacana de San Nicolás de Hidalgo | es_MX |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/7 | |
dc.subject | FIE-L-2011-0137 | es_MX |
dc.subject | Análisis | es_MX |
dc.subject | Simulación | es_MX |
dc.subject | Confiabilidad | es_MX |
dc.subject | Circuitos eléctricos | es_MX |
dc.title | Análisis y simulación de confiabilidad en circuitos eléctricos | es_MX |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | es_MX |
dc.creator.id | 0 | |
dc.advisor.id | 0 | |
dc.advisor.role | asesorTesis | |
Aparece en las colecciones: | Licenciatura |
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Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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