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dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.contributor.advisorGonzález Ávalos, Gilberto
dc.contributor.authorIbarra Pérez, Aarón Alejandro
dc.date.accessioned2023-11-23T15:08:22Z-
dc.date.available2023-11-23T15:08:22Z-
dc.date.issued2016-04
dc.identifier.urihttp://bibliotecavirtual.dgb.umich.mx:8083/xmlui/handle/DGB_UMICH/16072-
dc.descriptionFacultad de Ingeniería Eléctrica. Licenciatura en Ingeniería Electrónicaes_MX
dc.description.abstractThis thesis seeks to expose the use of semiconductor devices in NI ELVIS workstation, using mainly two of its virtual instruments for the visualization and manipulation of each of the responses of these semiconductor devices (analyzer voltage vs current two-wire) and (analyzer voltage vs current three-wire). Virtual instrumentation is a concept introduced by the company National Instruments (2001). In 1983, Truchard and Kodosky, National Instruments, decided to face the problem of creating software that would use personal computer (PC) as an instrument for measurement. Three years were needed to create the first version of the software that allowed, in a graphic and simple way to design an instrument on the PC. Thus the concept of virtual instrument (IV), defined as arises "an instrument that is not real, is running on a computer and has its functions defined by software." In the year (2003) the company NI (National Instruments) manufactured the NI ELVIS workstation, the station has twelve modes of operation on a single integrated module that can be configured through the computer. The NI ELVIS workstation is one of the innovative developments of NI, and that offers tools and operates with virtual instruments via the computer, which has a more flexible way to perform analyzes on electrical circuit. In recent years, research by many scientists about the behavior to the passage of electric current in materials called semiconductors, have resulted in a series of discoveries and advances such that its outcome is almost impossible to predict.en
dc.description.abstractEl presente trabajo de tesis pretende exponer la utilización de dispositivos semiconductores en la estación de trabajo NI ELVIS, utilizando principalmente dos de sus instrumentos virtuales para la visualización y manipulación de cada una de las respuestas de estos dispositivos semiconductores (analizador de voltaje vs corriente de dos hilos) y (analizador de voltaje vs corriente de tres hilos). La instrumentación virtual es un concepto introducido por la compañía National Instruments (2001). En el año de 1983, Truchard y Kodosky, de National Instruments, decidieron enfrentar el problema de crear un software que permitiera utilizar la computadora personal (PC) como un instrumento para realizar mediciones. Tres años fueron necesarios para crear la primera versión del software que permitió, de una manera gráfica y sencilla, diseñar un instrumento en la PC. De esta manera surge el concepto de instrumento virtual (IV), definido como, "un instrumento que no es real, se ejecuta en una computadora y tiene sus funciones definidas por software." En el año (2003) la empresa NI (National Instruments) fabricó la estación de trabajo NI ELVIS, dicha estación posee 12 modos de operación integrados en un solo modulo y que pueden ser configurados a través de la computadora. La estación de trabajo NI ELVIS es uno de los desarrollos innovadores de NI, ya que posee herramientas y opera con instrumentos virtuales a través del ordenador, lo cual presenta una manera más flexible para realizar análisis en circuito eléctricos. En los últimos años las investigaciones realizadas por un gran número de científicos, sobre el comportamiento de la corriente eléctrica en materiales semiconductores, han dado por resultado una serie de descubrimientos y adelantos de tal naturaleza que su desenlace es casi imposible prever.es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherUniversidad Michoacana de San Nicolás de Hidalgoes_MX
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/7
dc.subjectFIE-L-2016-0498es_MX
dc.subjectSimulaciónes_MX
dc.subjectAdquisición de datoses_MX
dc.subjectProcesamiento de señaleses_MX
dc.subjectInstrumentaciónes_MX
dc.titleCaracterización de dispositivos semiconductores en la plataforma NI ELVISes_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises_MX
dc.creator.id0
dc.advisor.id0
dc.advisor.roleasesorTesis
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