One of the fundamental tools for the structural characterization of the materials is X-ray diffraction (XRD). Through the XRD, different structural aspects of a material can be known, such as; The crystallographic phase, its interplanar distances that in the end allow us to precisely measure the network parameters; The crystal size, which is a direct relation of the properties of the same. In addition, the intensities of the diffraction lines give us information about the atomic positions of the atoms within the crystalline grid, give us information about the effect of temperature on the same important factors in the diffusion of the materials, gives us information about the Crystallographic orientation that a material during its processing or subsequent mechanical, thermal, etc. treatment can present. To investigate the structure of the crystals it is necessary to use wavelength radiations comparable to the interatomic distances, ie of the order of 1 Å. Longer wavelength radiations can not generate mind to solve the details of the atomic structure and those of much shorter wavelength do not diffract more than for smaller angles. By such precise measurement of these characteristics of a solid or material Radiated by XRD, it is important to know them in a correct way to relate them to the properties of such material. The procedure to know and measure these structural properties is mainly based on obtaining the X-ray of the polycrystalline type material, using of course an RX diffractometer, experiments that must be executed under suitable conditions to obtain enough statistical data for the measurements above mentioned.
Una de las herramientas fundamentales para la caracterización estructural de los materiales es la Difracción de rayos X (DRX). Mediante la DRX, se pueden conocer diferentes aspectos estructurales de un material, tales como; la fase cristalográfica, sus distancias interplanares que a la postre nos permiten medir precisamente los parámetros de red; el tamaño de cristal, el cual es una relación directa de las propiedades del mismo. Además, las intensidades de la líneas de difracción nos dan información de las posiciones atómicas de los átomos dentro de la retícula cristalina, nos dan información del efecto de la temperatura sobre los mismos factores importantes en la difusión de los materiales, nos da información de la orientación cristalográfica que un material durante su procesamiento o tratamiento posterior mecánico, térmico, etc., puede presentar. Para investigar la estructura de los cristales es necesario utilizar radiaciones de longitud de onda comparable a las distancias interatómicas, es decir, del orden de 1 Å. Las radiaciones de mayor longitud de onda no pueden generar mente resolver los detalles de la estructura atómica y las de longitud de onda mucho más corto no se difractan más que para ángulos más pequeños .Por tal la medición precisa de estas características de un sólido o material radiado mediante DRX, es importante conocerlas en forma certera para relacionarlas con las propiedades de dicho material. El procedimiento para conocer y medir estas propiedades estructurales se basa principalmente en obtener la radiografía de RX del material tipo policristalino, utilizando por supuesto un difractómetro de RX, experimentos que deben ser ejecutados bajo condiciones adecuadas para lograr la suficiente cantidad de datos estadísticos para las mediciones arriba mencionadas.
