The use of light has gained great importance worldwide for its properties when it interacts with matter, with the consequence novel applications everyday human activities. In this thesis two s method is proposed for information on the topography to millimeter level surfaces of materials: profilometry and Phase shift step. These methods are based on an application Transform Fourier and consist of periodic binary project a grid on the materials to be analyzed. The image formed is then captured on a computer by means of a camera CCD and processed by two MathCad programs in which the methods were implemented Profilometry and phase steps and leaving you to obtain a three-dimensional image topography provides discussed objects.
La utilización de la luz ha ganado gran importancia a nivel mundial por sus propiedades cuando interacciona con la materia, teniendo como consecuencia novedosas aplicaciones en las actividades cotidianas del ser humano. En esta tesis se proponen dos métodos para obtener información sobre la topografía a nivel milimétrico de superficies de materiales: Perfilometría y Corrimiento de fase por pasos. Estos métodos se basan en una aplicación de la Transformada de Fourier y consisten en proyectar una rejilla binaria periódica sobre los materiales a analizar. La imagen que se forma es posteriormente capturada en una computadora por medio de una cámara CCD y procesada mediante dos programas de MathCad en los que se implementaron los métodos de perfilometría y fase por pasos, permitiendo así obtener una imagen tridimensional que proporciona la topografía de los objetos que se analizan.
